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ASPEN培训课程
培训对象：DFT工程师、测试工程师、芯片设计经理、质量可靠性工程师
培训目标：系统学习可测试性设计（DFT）核心技术，包括Scan、MBIST、JTAG及压缩技术，提升测试覆盖率与效率。
培训内容：
1.DFT基本概念、测试成本与测试质量（DPPM）
2.扫描链（Scan Chain）设计与插入技术
3.自动测试向量生成（ATPG）与故障模型
4.内存内建自测试（BIST）算法与实现
5.边界扫描与JTAG（IEEE 1149.1）标准
6.测试压缩技术与片上解压/压缩逻辑
7.测试时钟规划与测试模式时序
8.模拟/混合信号测试接口设计
9.DFT与物理实现（布局布线）的协同
10.测试向量转换与ATE加载流程
11.良率诊断与失效位图分析（Bitmapping）
12.面向汽车电子的DFT特殊要求（ISO 26262）
